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產品信息
B2S單晶直探頭
B2S保護膜探頭
B2S
以上需要詳細資料請致電我司
深圳華清儀器儀表有限公司
李登彪 18675597965
0755-28199550 QQ 2234837666
B2S單晶直探頭
B2S保護膜探頭
B2S
以上需要詳細資料請致電我司
深圳華清儀器儀表有限公司
李登彪
QQ 2234837666
接觸法探頭
接觸法直探頭, 保護膜,帶保護膜探頭
應用
? 一般檢測目的, 簡單形狀的大零件
? 鍛件, 鑄件
? 板材, 棒材, 方型材
? 容器, 機器零件, 殼體
? 高溫檢測時帶延遲塊
性能特征
? 歐款有可更換膜:
- 在不平整和曲面上增進耦合
- 延長探頭壽命
- 適于DGS缺陷評定
- 可連接高溫延遲塊
- Lemo (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標準為側裝, 頂裝可選
? 美款有三種類型的保護:
- 膜可以在不平整和曲面上增進耦合.
- 耐磨帽定期更換可無期限延長探頭壽命
- 高溫延遲塊可以實現 00°F ( 00°C)表面檢測.
- BNC 連接端口, 頂裝或側裝
接觸法探頭
接觸探頭主要用于手動檢測。應用接觸法探傷時,需要在測量區域或多個測量區域涂上薄薄的一層耦合劑,然后直接將探頭 放置在被測物體表面進行檢測。
耦合劑(用于藕合探頭和被測物,如油,甘油等)添加在探頭 和被測物體之間的空氣間隙中,使聲波傳輸進入被測物體。接觸法探傷將探頭分別放置在各檢測點逐點檢測,或者在被測 物體表面連續移動探頭來完成的。
大 表 面 要 以 某 種 網 狀 模 式 進 行 掃 描 檢 測 , 網 格 的 寬 度 取 決 于缺陷的程度和檢測標準。
如果不能使用耦合劑,那么就要在某些探頭上使用耦合帽,它由軟塑料制成。
有 兩 種 類 型 的 探 頭 可 供 檢 測 選 用 : 單 探 頭 ( 圖 1 ) 和 雙 晶 探頭 ( 圖 2 ) 。 兩 種 探 頭 都 是 在 垂 直 于 被 測 物 體 表 面 的 方 向 上
發 射 和 接 收 脈 沖 ( 直 探 頭 ) , 或 者 是 在 與 被 測 物 體 表 面 成 一 定角度的方向上發射和接收脈沖(斜探頭,圖3)。
接觸式探頭的選擇標準
對于選用探頭沒有特別規定時,以下為的探頭選用標準供
參考:
首先,要決定選用單探頭還是TR探頭。如果要探測近表面的缺 陷,那么TR探頭更合適些。
其次,就是根據預期的缺陷位置決定使用直探頭還是斜探頭。
根據聲波的鏡面反射原理,聲束應該垂直入射到反射面。當頻
率增加時,這一點必須要特別加以注意。
第三,考慮檢測分辨率(聲束寬度)。 后,根據表中給出的數據和給出的探頭類別選擇,可以依據尺寸、頻率、波譜和工作量程等選擇合適的探頭.
帶可更換保護膜的直探頭
B0.5SL
形狀與粗晶探頭 K0.5S和K1S相同
B2S
設計上與K..SC探頭相同
MB4S
設計上與MK..S探頭相同
B2S-0
形狀與K0.5SM和K1SM探頭相同
主要特性:
·單晶探頭實現聲波的發射和接收
·縱波垂直傳輸
·即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上,由于柔性的抗磨損保護膜而具有穩定的耦合特性
·如果及時地更換保護膜,則探頭的磨損可以達到小
·特殊的粗晶探頭,在測試高衰減材料時,利用短脈沖可以達到高信噪比
·由于采用印模壓鑄成型,因此實際形狀具有很高的穩定性
主要應用領域
通常:用于容器或者平行于表面的缺陷探測和評估??筛鼡Q的
抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面也達到 好耦合,并防止探頭磨損。
B..SL:
用于檢測中等尺寸和大尺寸物體,它們由于聲程長(例如大的
鍛 件 或 球 墨 鑄 鐵 ) 而 導 致 聲 波 衰 減 嚴 重 。 它 們 也 適 用 于 檢 測
具 有 強 聲 波 吸 收 特 性 的 塑 料 材 料 ( 例 如 尼 龍 、 特 氟 龍 、 聚 丙 烯),為增加靈敏度和分辨率,可以將保護膜去掉。
K..S,K..SM,K..SC和MK..S(粗晶探頭):
用于檢測粗晶粒中等尺寸和大尺寸物體,這種材料的物體由于
聲波的散射作用(例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合
成材料等制成的物體)而使聲波衰減嚴重。
它們也可以用于檢測材料的物理特性(例如建筑材料、巖芯和 半導體材料的特性)。
B..S和MB..S: 這類探頭性能參數誤差小,對目前大多數的檢測任務(例如平 板物、條狀物和方形輪廓物體的測試,以及容器和螺釘、螺孔 和外殼等的測試),可以達到高的精度要求。對于由多種材 料(例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料)構成的 形狀簡單的部件檢測也可以達到高精度要求。
帶可更換保護膜的直探頭
特性:在粗糙表面上具有穩定的耦合性能
帶保護膜探頭—歐洲規格
探頭型號規格
類型 |
D [mm] |
f [MHz] |
AB [mm] |
N [mm] |
EB [mm] |
備注 |
|
||||||
|
||||||
K0.5S |
34 |
0.5 |
100-250 |
23 |
10 |
|
K1S |
34 |
1 |
50-1350 |
46 |
6 |
高阻抗粗晶粒材料 檢測 |
K0.5SM |
28 |
0.5 |
80-145 |
15 |
8 |
|
K1SM |
28 |
1 |
40-780 |
31 |
6 |
|
|
||||||
K1SC |
24 |
1 |
35-1200 |
23 |
6 |
|
K2SC |
24 |
2 |
18-3000 |
45 |
3 |
粗晶粒材料檢測,特 別適合于應用ZIP技術 檢測塑料材料 |
MK1S |
10 |
1 |
30-350 |
4 |
6 |
|
MK2S |
10 |
2 |
15-700 |
8 |
3 |
|
MK4S |
10 |
4 |
10-1300 |
16 |
2 |
|
探頭型號 |
尺寸 |
英寸 |
頻率 |
尺寸 |
英寸 |
B0.5SL |
34 |
|
0.5 |
|
|
B1SL |
34 |
|
1 |
|
|
B2SL |
30 |
|
2 |
|
|
B1S |
24 |
0.94 |
1 |
23 |
0.9 |
B1S-EN |
24 |
0.94 |
1 |
23 |
0.9 |
B1S-O |
24 |
0.94 |
1 |
23 |
0.9 |
B2S |
24 |
0.94 |
2 |
45 |
1.8 |
B2S-EN |
24 |
0.94 |
2 |
45 |
1.8 |
B2S-O |
24 |
0.94 |
2 |
45 |
1.8 |
B2S-O-EN |
24 |
0.94 |
2 |
45 |
1.8 |
B4S |
24 |
0.94 |
4 |
88 |
3.5 |
B4S-EN |
24 |
0.94 |
4 |
88 |
3.5 |
B4S-O |
24 |
0.94 |
4 |
88 |
3.5 |
B4S-O-EN |
24 |
0.94 |
4 |
88 |
3.5 |
B5S |
24 |
0.94 |
5 |
110 |
4.3 |
|
|||||
MB2S |
10 |
0.39 |
2 |
8 |
0.3 |
MB2S-EN |
10 |
0.39 |
2 |
8 |
0.3 |
MB2S-O |
10 |
0.39 |
2 |
8 |
0.3 |
MB4S |
10 |
0.39 |
4 |
16 |
0.6 |
MB4S-EN |
10 |
0.39 |
4 |
16 |
0.6 |
MB4S-O |
10 |
0.39 |
4 |
16 |
0.6 |
MB5S |
10 |
0.39 |
5 |
20 |
0.8 |
MB5S-O |
10 |
0.39 |
5 |
20 |
0.8 |
可定制特殊規格探頭
附件
描述 |
類型 |
備注 |
保護膜(1套=10片) |
ES45 |
用于B...S |
保護膜(1套=10片) |
ES24 |
用于MB...S |
保護膜(1套=10片) |
ES57 |
|
保護膜(1套=100片) |
ES12 |
用于點焊探頭 |
保護膜(1套=100片) |
ES14 |
用于點焊探頭 |
電纜線 |
PKLL2 |
用于B...S |
電纜線 |
MPKL2 |
用于MB...S |