接觸法探頭
接觸法直探頭, 保護膜，帶保護膜探頭
應用
? 一般檢測目的, 簡單形狀的大零件
? 鍛件, 鑄件
? 板材, 棒材, 方型材
? 容器, 機器零件, 殼體
? 高溫檢測時帶延遲塊
性能特征
? 歐款有可更換膜:
- 在不平整和曲面上增進耦合
- 延長探頭壽命
- 適于DGS缺陷評定
- 可連接高溫延遲塊
- Lemo (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標準為側裝, 頂裝可選
? 美款有三種類型的保護:
- 膜可以在不平整和曲面上增進耦合.
- 耐磨帽定期更換可無期限延長探頭壽命
- 高溫延遲塊可以實現 00°F ( 00°C)表面檢測.
- BNC 連接端口, 頂裝或側裝
接觸法探頭
接觸探頭主要用于手動檢測。應用接觸法探傷時，需要在測量區域或多個測量區域涂上薄薄的一層耦合劑，然后直接將探頭 放置在被測物體表面進行檢測。
耦合劑（用于藕合探頭和被測物，如油，甘油等）添加在探頭 和被測物體之間的空氣間隙中，使聲波傳輸進入被測物體。接觸法探傷將探頭分別放置在各檢測點逐點檢測，或者在被測 物體表面連續移動探頭來完成的。
大 表 面 要 以 某 種 網 狀 模 式 進 行 掃 描 檢 測 ， 網 格 的 寬 度 取 決 于缺陷的程度和檢測標準。
如果不能使用耦合劑，那么就要在某些探頭上使用耦合帽，它由軟塑料制成。
有 兩 種 類 型 的 探 頭 可 供 檢 測 選 用 ： 單 探 頭 （ 圖 1 ） 和 雙 晶 探頭 （ 圖 2 ） 。 兩 種 探 頭 都 是 在 垂 直 于 被 測 物 體 表 面 的 方 向 上
發 射 和 接 收 脈 沖 （ 直 探 頭 ） ， 或 者 是 在 與 被 測 物 體 表 面 成 一 定角度的方向上發射和接收脈沖（斜探頭，圖3）。
接觸式探頭的選擇標準
對于選用探頭沒有特別規定時，以下為的探頭選用標準供
參考：
首先，要決定選用單探頭還是TR探頭。如果要探測近表面的缺 陷，那么TR探頭更合適些。
其次，就是根據預期的缺陷位置決定使用直探頭還是斜探頭。
根據聲波的鏡面反射原理，聲束應該垂直入射到反射面。當頻
率增加時，這一點必須要特別加以注意。
第三，考慮檢測分辨率（聲束寬度）。 后，根據表中給出的數據和給出的探頭類別選擇，可以依據尺寸、頻率、波譜和工作量程等選擇合適的探頭.
帶可更換保護膜的直探頭
B0.5SL
形狀與粗晶探頭 K0.5S和K1S相同
B2S
設計上與K..SC探頭相同
MB4S
設計上與MK..S探頭相同
B2S-0
形狀與K0.5SM和K1SM探頭相同
主要特性：
·單晶探頭實現聲波的發射和接收
·縱波垂直傳輸
·即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上，由于柔性的抗磨損保護膜而具有穩定的耦合特性
·如果及時地更換保護膜，則探頭的磨損可以達到小
·特殊的粗晶探頭，在測試高衰減材料時，利用短脈沖可以達到高信噪比
·由于采用印模壓鑄成型，因此實際形狀具有很高的穩定性
主要應用領域
通常：用于容器或者平行于表面的缺陷探測和評估?？筛鼡Q的
抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面也達到 好耦合，并防止探頭磨損。
B..SL：
用于檢測中等尺寸和大尺寸物體，它們由于聲程長（例如大的
鍛 件 或 球 墨 鑄 鐵 ） 而 導 致 聲 波 衰 減 嚴 重 。 它 們 也 適 用 于 檢 測
具 有 強 聲 波 吸 收 特 性 的 塑 料 材 料 （ 例 如 尼 龍 、 特 氟 龍 、 聚 丙 烯），為增加靈敏度和分辨率，可以將保護膜去掉。
K..S，K..SM，K..SC和MK..S（粗晶探頭）：
用于檢測粗晶粒中等尺寸和大尺寸物體，這種材料的物體由于
聲波的散射作用（例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合
成材料等制成的物體）而使聲波衰減嚴重。
它們也可以用于檢測材料的物理特性（例如建筑材料、巖芯和 半導體材料的特性）。
B..S和MB..S： 這類探頭性能參數誤差小，對目前大多數的檢測任務（例如平 板物、條狀物和方形輪廓物體的測試，以及容器和螺釘、螺孔 和外殼等的測試），可以達到高的精度要求。對于由多種材 料（例如所有的金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）構成的 形狀簡單的部件檢測也可以達到高精度要求。
帶可更換保護膜的直探頭
特性：在粗糙表面上具有穩定的耦合性能
帶保護膜探頭—歐洲規格
